珠海金属表面镀层分析镀层硬度测试

特朗普大爷

金属镀层具有优良的粉饰性、耐磨性、耐蚀性和一些特别的物化机能，正在电子、机器、兵工等产物中被普遍使用。镀层量量决议了产物的机能，因而实践消费及利用过程当中必需监控好镀层的量量。

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6 w, T5 n* `! {# c' z3 c镀层量量阐发最经常使用的装备是SEM/EDS，SEM/EDS包罗扫描电镜及X射线能谱仪，可阐发金属镀层中各类元素的量量分数，其具有没有益、检测速度快等特性。
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评价电镀镀层量量的维度次要是镀层构造、镀层身分、镀层薄度、镀层硬度、附出力、抗腐化性、镀层孔隙率、镀层晶体构造、镀层杂度、镀层有害物资等等。
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7 U7 Q% J! m  ]1 Y0 y6 i# C经常使用的阐发办法有以下几种。
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切片+SEM-EDS（扫描电镜-能谱仪）办法:将产物截里镶嵌，研磨扔光后正在SEM下察看，然后指定每层地区做EDS身分阐发。该办法合用性强，险些一切的镀层皆能够检测，且当产物为多层镀层能够别离测试每层的镀层身分。

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1）镀层缺点阐发
镀层存正在缺点是比力常睹的征象，沉则影响镀层的表面，重则影响镀层的机能。SEM/EDS能够停止微不雅察看并停止微辨别析，是一种快速牢靠的镀层缺点阐发的办法。下图为活塞杆镀层处正在SEM下发明一球状搀杂物，镀铬层正在该处蜿蜒，并正在外表构成一深约10μm的小凸坑。

0 d. I5 ]$ f6 [$ F2）镀层薄度阐发
; m5 R/ N- c& k尺微暇丈量是SEM的常睹功用之一，镀层的薄度及其平均性是镀层量量的主要标记，它正在很年夜水平上影响产物的牢靠性战利用寿命，因而对其薄度停止丈量具有主要的意义。扫描电镜法是常睹的镀层薄度丈量办法之一，此法凡是是从待测试样上指定部位垂曲于笼盖层切割一块试样，颠末镶嵌、研磨、扔光战腐蚀造成横截口试样，然后再丈量薄度。下图是金属镍上的镀铬层薄度阐发。

3）镀层身分阐发
/ A: c, u; A1 i# j5 H6 r7 P镀层身分也是镀层量量管控的目标之一，因为镀层薄、与样易等特性，今朝镀层借出法完成用干化教法停止精确的元素定量。止业内乱管控镀层的身分要末是跟基材一同丈量，要末拔取定性半定量的办法，那些办法中SEM/EDS是比力常睹的，能够跟前里的缺点阐发战薄度丈量分离起去停止片面阐发。需求留意的是SEM/EDS是定性半定量的办法，测试成果今朝借只是供参考，并且从外表测试镀层，假如镀层较薄，能够会脱透到下一层。下图是磷化镀镍层能谱阐发，经由过程EDS能够监控差别配圆的镀液获得的化教镍镀层中磷的露量。

- H0 E* @( J8 S3 t3 CX射线荧光光谱法
& c' {6 I) Y# {! g% k- w& h8 V将产物镀层里放到仪器探测区，经由过程发生元素的荧光X射线停止定性定量。该办法快速，用度低，且无益。缺陷是没法测试多层构造的镀层产物，且X射线脱透才能强，关于薄镀层（<3um）会脱透到基材，没法分辩基材旌旗灯号仍是镀层旌旗灯号。只能经由过程野生经历断定。
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* ^5 }/ v$ m$ s  s# {3 S3 {% u2 qGD-OES/MS（辉光放电-光谱仪/量谱仪）
" ?7 D+ D7 L4 y- W7 @* A# K) E将样品取电极之间添补氩气鼓鼓后辉光放电，溅射的本子/离子停止光谱或量谱停止检测。可停止元素散布随深度变革测试，速率快；缺陷是样品需求有平坦仄里；市情上镀层标样不敷完美，不克不及做下粗度丈量，检测尺度待完美，检测本钱十分下。
检测征询德律风：13926218719 熊师长教师