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金属镀层具有优良的粉饰性、耐磨性、耐蚀性和一些特别的物化机能,正在电子、机器、兵工等产物中被普遍使用。镀层量量决议了产物的机能,因而实践消费及利用过程当中必需监控好镀层的量量。
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镀层量量阐发最经常使用的装备是SEM/EDS,SEM/EDS包罗扫描电镜及X射线能谱仪,可阐发金属镀层中各类元素的量量分数,其具有没有益、检测速度快等特性。, b" w q5 C1 @9 W Y
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3 O/ ~& J# O" D1 o0 D& [; y评价电镀镀层量量的维度次要是镀层构造、镀层身分、镀层薄度、镀层硬度、附出力、抗腐化性、镀层孔隙率、镀层晶体构造、镀层杂度、镀层有害物资等等。4 k# [: [3 o% }8 d# l0 f: ~" K0 }
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经常使用的阐发办法有以下几种。( g# O, M8 ^$ |
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切片+SEM-EDS(扫描电镜-能谱仪)办法:将产物截里镶嵌,研磨扔光后正在SEM下察看,然后指定每层地区做EDS身分阐发。该办法合用性强,险些一切的镀层皆能够检测,且当产物为多层镀层能够别离测试每层的镀层身分。6 [, M5 n& a' x! e' `
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# j# O- z2 ^+ c1 `) w1)镀层缺点阐发& B% H X# i1 F8 z: ~' _( Q
镀层存正在缺点是比力常睹的征象,沉则影响镀层的表面,重则影响镀层的机能。SEM/EDS能够停止微不雅察看并停止微辨别析,是一种快速牢靠的镀层缺点阐发的办法。下图为活塞杆镀层处正在SEM下发明一球状搀杂物,镀铬层正在该处蜿蜒,并正在外表构成一深约10μm的小凸坑。7 `" y5 b7 g* ?! u
( ]6 E/ i% D4 f2)镀层薄度阐发
( A% ]# i8 Z* r' q o A尺微暇丈量是SEM的常睹功用之一,镀层的薄度及其平均性是镀层量量的主要标记,它正在很年夜水平上影响产物的牢靠性战利用寿命,因而对其薄度停止丈量具有主要的意义。扫描电镜法是常睹的镀层薄度丈量办法之一,此法凡是是从待测试样上指定部位垂曲于笼盖层切割一块试样,颠末镶嵌、研磨、扔光战腐蚀造成横截口试样,然后再丈量薄度。下图是金属镍上的镀铬层薄度阐发。
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. \2 K% S w; D% t3)镀层身分阐发
% \0 S u* [* ~4 J. n镀层身分也是镀层量量管控的目标之一,因为镀层薄、与样易等特性,今朝镀层借出法完成用干化教法停止精确的元素定量。止业内乱管控镀层的身分要末是跟基材一同丈量,要末拔取定性半定量的办法,那些办法中SEM/EDS是比力常睹的,能够跟前里的缺点阐发战薄度丈量分离起去停止片面阐发。需求留意的是SEM/EDS是定性半定量的办法,测试成果今朝借只是供参考,并且从外表测试镀层,假如镀层较薄,能够会脱透到下一层。下图是磷化镀镍层能谱阐发,经由过程EDS能够监控差别配圆的镀液获得的化教镍镀层中磷的露量。
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X射线荧光光谱法' c; _3 l( [) Z7 B
将产物镀层里放到仪器探测区,经由过程发生元素的荧光X射线停止定性定量。该办法快速,用度低,且无益。缺陷是没法测试多层构造的镀层产物,且X射线脱透才能强,关于薄镀层(<3um)会脱透到基材,没法分辩基材旌旗灯号仍是镀层旌旗灯号。只能经由过程野生经历断定。
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1 [ M0 ?2 ~' lGD-OES/MS(辉光放电-光谱仪/量谱仪); }' @$ i- h/ C4 H/ H2 g
将样品取电极之间添补氩气鼓鼓后辉光放电,溅射的本子/离子停止光谱或量谱停止检测。可停止元素散布随深度变革测试,速率快;缺陷是样品需求有平坦仄里;市情上镀层标样不敷完美,不克不及做下粗度丈量,检测尺度待完美,检测本钱十分下。& W) W0 ?5 u2 q3 y
检测征询德律风:13926218719 熊师长教师 |
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